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激光粒度儀的正確使用和維護(hù)方法
激光粒度儀的正確使用和維護(hù)方法

在日常激光粒度儀的使用中,難免會(huì)有不同的人或者不同的環(huán)境去操作使用激光粒度儀,操作者因人不同,有的會(huì)很粗心的去操作導(dǎo)致設(shè)備使用壽命的降低或者出現(xiàn)配件的損壞,是設(shè)備使用增加了運(yùn)營(yíng)成本,這里整理的使用激光粒度儀過(guò)程中的幾點(diǎn)注意事項(xiàng),供參考1、電源電壓應(yīng)在200V~240V之間,當(dāng)電源電壓不穩(wěn)定,或有脈沖干擾時(shí),應(yīng)配備交流穩(wěn)壓電源。2、激光粒度儀屬精密設(shè)備,應(yīng)放置平穩(wěn)、牢固,避免震動(dòng)、敲擊、防止滑落。3...

2024-08-13
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  • 真密度儀概述及原理

    氣體法真密度分析儀是先進(jìn)的檢測(cè)材料骨架體積和真實(shí)密度的儀器,能測(cè)試排液法無(wú)法測(cè)定的固體材料。它是理想氣態(tài)方程的應(yīng)用,采用惰性氣體標(biāo)定體積,具有不污染不破壞樣品的優(yōu)點(diǎn),同時(shí)具備更高的測(cè)試精度和穩(wěn)定性。㈠真密度的定義真密度(TrueDensity)指材料在密實(shí)狀態(tài)下的實(shí)際密度,不包括內(nèi)部、外部空隙的實(shí)際體積下測(cè)得的密度。㈡應(yīng)用范圍粉體、顆粒、多孔材料、漿狀物質(zhì)、不易揮發(fā)性液體的真實(shí)密度測(cè)定;聚氨酯泡沫的開(kāi)閉孔率測(cè)試。㈢測(cè)試原理(波馬定律)理想氣態(tài)方程pv=nrt在恒溫條件的下應(yīng)用...

    20228-17
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  • 濕法激光粒度分析儀特點(diǎn)分析

    首先:客戶問(wèn)濕法好還是干法好,這個(gè)不是哪個(gè)好。是實(shí)用范圍導(dǎo)致分濕法,干法激光粒度分析儀如果您待測(cè)樣品在水或者有機(jī)溶劑會(huì)發(fā)生物理或者化學(xué)反應(yīng)。那么建議使用干法激光粒度分析儀、干法激光粒度分析儀是用空氣為分散介質(zhì)。只要用一定的壓力空氣速分散即可測(cè)試。First:Customersask"wetmethod"or"dry",whichisnotgood?.Ispracticalrangeleadingtowet,drylaserparticlesizeanalyzer,ifyoua...

    20228-11
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  • Zeta電位儀測(cè)試方法及測(cè)試原理分類詳解

    Zeta電位是納米材料的一種重要表征參數(shù)。很多微納米產(chǎn)品都需要表征其穩(wěn)定性,粒度大小、zeta電位、ph值、溫度、產(chǎn)品配方等會(huì)影響樣品穩(wěn)定性,而zeta電位是樣品穩(wěn)定性比較直觀的一個(gè)參數(shù)?,F(xiàn)代儀器可以通過(guò)簡(jiǎn)便的手段快速準(zhǔn)確地測(cè)得。HL8001系列zeta電位分析儀常見(jiàn)的幾種測(cè)試電位方法:1.電泳光散射法:常見(jiàn)的測(cè)試zeta電位的方法是利用光學(xué)法,也就是電泳光散射法,由于此方法可以和動(dòng)態(tài)光散射法相結(jié)合,隨著納米粒度及zeta電位儀的市場(chǎng)擴(kuò)大,而這種方法被廣大客戶接受。此方法的特...

    20228-9
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  • 納米激光粒度儀使用注意事項(xiàng)

    納米激光粒度儀利用動(dòng)態(tài)光散射原理和光子相關(guān)光譜技術(shù),根據(jù)顆粒在液體中的布朗運(yùn)動(dòng)速度來(lái)測(cè)量粒度。小粒子的布朗運(yùn)動(dòng)快,大粒子的布朗運(yùn)動(dòng)慢。當(dāng)這些粒子受到激光照射時(shí),散射光會(huì)以不同的速度波動(dòng)。光子相關(guān)光譜根據(jù)光子在特定方向的波動(dòng)來(lái)分析粒徑。它是記錄粒度的理想工具。通過(guò)使用新的粒度損失分析器功能和的自動(dòng)趨勢(shì)分析,您可以快速找到不同時(shí)間的變化。日常儲(chǔ)存和使用中的注意事項(xiàng)如下:1、納米激光粒度儀測(cè)量單元連續(xù)開(kāi)機(jī)時(shí)間不超過(guò)5小時(shí);2、測(cè)量一個(gè)樣品時(shí),必須取下樣品漏斗,讓儀器自動(dòng)執(zhí)行清倉(cāng)程序...

    20228-9
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  • 比表面積及孔徑分析儀的原理、特點(diǎn)及測(cè)試方法

    比表面積及孔徑分析儀選用靜態(tài)數(shù)據(jù)容積法**測(cè)量原理,為完成性能**與高通量測(cè)序,選用了與眾不同的模塊化設(shè)計(jì)系統(tǒng)軟件。儀器設(shè)備配置六個(gè)工作平臺(tái),可單獨(dú)或與此同時(shí)實(shí)際操作,完成對(duì)粉末狀、顆粒物、化學(xué)纖維及片狀材料的比表面積、孔隙率、孔容及直徑等性能**高通量測(cè)序剖析。機(jī)器設(shè)備適用電池正負(fù)極原材料,木薯淀粉等藥品輔材,碳黑、白炭黑、鈦白粉等多孔結(jié)構(gòu)粉體設(shè)備,三氧化二鋁、碳分子篩等催化反應(yīng)原材料,活性碳、沸石等吸附原材料。一、比表面積及孔徑分析儀檢測(cè)原理:在超低溫(如:石蠟浴,77....

    20228-9
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